问题

同-生产条件下生产的-批电子元件,任意抽取-件测试其寿命,事件A=“测得时间小于1 800小时”,事件B=“测得时间大于1 000小时”,A n B等于()。

A:{x:x>1 000}
B:{x:x>1 800}
C:{x:1 000
D:{x:x<1 800}
正确答案是:
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